Standard Svensk standard · SS-EN 62374

Halvledare - Provning av tidsberoende dielektriskt genombrott (TDDB) i dielektriska skikt i styren

Status: Gällande

Köp denna standard

Standard Svensk standard · SS-EN 62374

Halvledare - Provning av tidsberoende dielektriskt genombrott (TDDB) i dielektriska skikt i styren
Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan. Läs mer om SIS Abonnemang
Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj
Pris: 394 SEK
standard ikon pdf

PDF

Pris: 394 SEK
standard ikon

Papper

Fler alternativ Färre alternativ

Ämnesområden

Halvledarkomponenter (31.080)

Köp denna standard

Standard Svensk standard · SS-EN 62374

Halvledare - Provning av tidsberoende dielektriskt genombrott (TDDB) i dielektriska skikt i styren
Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan. Läs mer om SIS Abonnemang
Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj
Pris: 394 SEK
standard ikon pdf

PDF

Pris: 394 SEK
standard ikon

Papper

Fler alternativ Färre alternativ

Produktinformation

Språk: Engelska

Framtagen av: SEK SVENSK ELSTANDARD

Internationell titel: Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown test (TDDB) test for gate dielectric films

Artikelnummer: STD-3333300

Utgåva: 1

Fastställd: 2008-05-19

Antal sidor: 22